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X荧光光谱仪
X荧光光谱仪
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详情说明 / Details

能量色散X荧光光谱仪,简称XRF,是一种物理的元素分析方法,具有快速、无损、多种元素同时分析、分析成本低等特殊技术优势,在电子、电器、珠宝、玩具、服装、皮革、食品、建材、冶金、地矿、塑料、石油、化工、医药等行业广泛应用。
 

1 仪器型号 ZL-3049
2 仪器测试范围 从硫S-铀U之间的元素
RoHS限定有害元素Pb/Hg/Cd/Cr/Br    + 卤素
合金:铜材,铁合金,镍合金,锡合金,钛合金,贵金属
镀层:Ag/Sn/Au/Ni—Cu,Cr/Zn/Ni/Ag/—Fe
3 样品种类 固体、液体、粉末、颗粒;
4 检出限 RoHS:≤2ppm
成分分析:0.01%--99.99%
镀层分析:0.0035um--40um
5 精度 0.05%
6 测试时间 60s-300s(软件自动调整)
7 摄像定位系统 800万真像素高清定位系统
8 X射线光管使用寿命 大于20000小时
9 探测器 美国Amptek公司原装进电制冷Si-Pin 探测器 
分辨率145ev±5
10 高压电源 0-50kev,0-2mA ,50W
11 高压保护措施 过压自保护,自恢复
12 准直滤光系统 X射线光斑直径:φ1mm、φ3mm、φ4mm
滤光系统:9种复合材料滤光片
13 工作环境温度: 温度 :15-30℃  ;湿度:≤75% (不结露)
14 输入电源: AC 220V±15%,50Hz
15 仪器尺寸: 650mm*450mm*350mm
16 测试样品腔尺寸: 280mm*280mm*200mm
17 辐射防护标准: 远高于国标GB18871-2002 GBZ115-2002标准